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未解决

一个测试EMI的疑问

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1
夜雨雨夜
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LV8
副总工程师
  • 2019-10-17 08:51:04
50问答币
最近在测试一个逆变器的EMI,也拆解了几家的机器。有几个问题:
测试条件:
1.测试机器有一个金属接线盒,接线盒内有接地点,接线盒有金属上盖,测试外接线都是使用金属导管(应该是塑钢软管)
现象:
2.测试中前面会超3DB,发现接线盒的金属盖子去掉后没有影响。
3.但是在接线盒与金属导管对接的地方串非晶的环可以有效降低,但是这个时候接线盒是没有盖盖子的

疑问:
1.如果辐射部分是在导管内部的线,导管是360度金属屏蔽的
2.如果是接线盒内的线,线接了一个开关,所以很长,但是我这个时候是暴露在空气中的,环也是加在接线盒接出来的地方
3.接线盒的金属屏蔽为什么不起作用?
4.测试中非晶的环和铁氧体的环效果差很多,但是在这么高的频率两个环不是应该差不多吗?

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anthony
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版主
  • 2019-10-17 09:33:14
  • 倒数3
 
要看你测的是什么产品,电路的这个架构,什么拓扑,PCBLayout,物料选择等,你这样提问谁都帮不了你。

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nc965
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版主
  • 2019-10-17 10:25:21
  • 倒数2
 
补一张照片吧,否则你的描述只有你自己才懂。
夜雨雨夜
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LV8
副总工程师
最新回复
  • 2019-10-17 13:23:57
  • 倒数1
 
boost+h6逆变拓扑,类似这样的逆变器,下半部分为接线盒,输出用类似的金属导管,都是金属屏蔽,磁环加在接线盒的输出端。

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